用于特定工件的检测校准和比对的试块称作（）

CSⅢ试块是一种适用于检测面为曲面的锻件检测标准试块。 CSⅢ试块是一种适用于检测面为曲面的锻件检测标准试块（） WGT-3试块主要用于检测（） 用试块法校准锻件检测灵敏度，当试块表面形状、粗糙度与锻件不同时，要进行耦合补偿。 CSK-ⅠA、CSK-ⅢA、CSK-Ⅳ试块主要用于制作横波距离-波幅曲线、校准斜探头的K值、横波扫描速度和检测灵敏度等（） 着色渗透检测用的试块也可用于荧光渗透检测（） 实验室应对从事特定类型抽样、检测和/或校准、签发检测/校准报告以及操作特定类型设备等工作的技术人员进行（）。 何谓计量检定、校准和比对 着色检测用的试块不能再用于荧光检测，反之则可以（） 用于仪器探头系统性能较准和检测较准的试块叫（） 标准试块不适用于确定被检工件的磁化规范，也不能用于考察被检工件表面的磁场方向和有效磁化区（） 用于仪器探头系统性能较准和检测较准的试块叫（） CSK-ⅠA、CSK-ⅢA、 CSK-Ⅳ试块主要用于制作横波距离-波幅曲线、校准斜探头的 K 值、横波扫描速度和检测灵敏度等。 实验室认可是对校准和检测实验室有能力进行特定类型校准和检测所做的一种正式承认。 用双晶直探头检测厚度不大于20mm的钢板时，应采用CB-Ⅱ标准试块对检测系统进行校准（） 用于检测、校准和抽样的设备及其软件应达到要求的（），并符合检测和（或）校准相应地规范要求。 用双晶直探头检测厚度不大于20mm的钢板时，应采用CB-Ⅱ标准试块对检测系统进行 校准。 磁粉探伤用的标准试块不适用于确定被检工件的磁化规范，也不能用于考察被检工件表面的磁场方向和有效磁化区（） 焊缝探伤仪的探伤工艺校准试块有（） 便携式直读光谱仪的自校准是检测人员拿着外部试块、标定元素进行标样校正工作（）