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用硅钼蓝分光光度法测定SiO2,适用于含量的SiO2的测定()
单选题
用硅钼蓝分光光度法测定SiO2,适用于含量的SiO2的测定()
A. 0.1%~3%
B. 0.5%~10%
C. 0.5%~50%
D. 1%~50%
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用硅钼蓝分光光度法测定SiO2,适用于含量的SiO2的测定()
A.0.1%~3% B.0.5%~10% C.0.5%~50% D.1%~50%
答案
单选题
用硅钼蓝分光光度法测定SiO2,要求波长为()
A.420nm B.570nm C.620nm D.430nm
答案
单选题
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答案
单选题
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答案
多选题
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答案
单选题
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答案
单选题
在无对照品时,用紫外分光光度法测定含量可选用在无对照品时,用紫外分光光度法测定含量可选用()
A.标准曲线法 B.吸收系数法 C.对照法 D.内标法 E.外标法
答案
主观题
简述用氟硅酸钾容量法测定SiO2原理?
答案
多选题
紫外分光光度法用于含量测定方法有紫外分光光度法用于含量测定方法有()
A.校正因子法 B.归一化法 C.对照品比较法 D.吸收系数法 E.计算分光光度法
答案
判断题
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答案
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岩浆的粘度取决于SiO2的含量,SiO2的含量越高,粘度越大,越不易流动。()
示差分光光度法适用于()。
示差分光光度法适用于(? ??)。
用紫外分光光度法测定的药物通常具有()
用紫外分光光度法测定的药物通常具有
紫外分光光度法用于含量测定方法有()
下面哪些说法是正确的()⑴ 热生长SiO2只能在Si衬底上生长 ⑵ CVD SiO2可以淀积在硅衬底上,也可以淀积在金属、陶瓷、及其它半导体材料上 ⑶ CVD SiO2,衬底硅不参加反应 ⑷ CVD SiO2,温度低
冶炼硅铁时对硅石中SiO2的含量要求是()
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