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探测表面不太平整,曲率较大的工件时,为减少(),宜选用()探头
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探测表面不太平整,曲率较大的工件时,为减少(),宜选用()探头
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探测表面不太平整,曲率较大的工件时,为减少(),宜选用()探头
答案
判断题
对于表面不太平整,曲率较大的工件,为了减小耦合损失,宜选用大晶片探头。
答案
判断题
在探测厚度较大的工件时,选用较小K值的探头是为了减少声程过大而引起的衰减,便于发现远场区的缺陷()
答案
判断题
工件表面比较粗糙时,为防止探头磨损和保护晶片,宜选用硬保护膜。
答案
判断题
在探测厚度较大的工件时,选用较小的K值的探头是为了减少声程过大而引起的衰减,便于发现远场区的缺陷()
答案
判断题
工件表面比较租糙时,为防止探头磨损和保护晶片,宜选用硬保护膜()
答案
单选题
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A.45° B.60° C.75° D.90°
答案
单选题
探测粗糙表面的工件时,为提高声能传递,应选用:()
A.声阻抗小且粘度大的耦合剂 B.声阻抗小且粘度小的耦合剂 C.声阻抗大且粘度大的耦合剂 D.以上都不是
答案
多选题
探测粗糙表面的工件时,为提高声能传递,应选用()
A.声阻抗小且粘度大的耦合剂 B.声阻抗小且粘度小的耦合剂 C.声阻抗相差小的耦合剂 D.以上都不是
答案
判断题
检测小型工件时,为了提高缺陷定位定量精度宜选用小晶片探头。
答案
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