单选题

套管表面脏污对tgδ测量的影响同对tgδ测量的影响一样()

A. 温度
B. 湿度
C. 电场
D. 磁场

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单选题
套管表面脏污对tgδ测量的影响同对tgδ测量的影响一样()
A.温度 B.湿度 C.电场 D.磁场
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测量介损tgδ和测量绝缘电阻一样,试品的表面泄漏对测量结果有一定影响,并且()
A.试品电容量较大,影响较小 B.试品电容量较大,影响较大 C.与试品电容量无关
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测量介损tgδ和测量绝缘电阻一样,试品的表面泄漏对测量结果有一定的影响,并且()
A.试品电容量较大,影响较小 B.试品电容量较大,影响较大 C.与试品电容量无关 D.与试品电阻有关
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试品绝缘表面脏污、受潮,在试验电压下产生表面泄漏电流,对试品tgδ和测量结果的影响程度是()
A.试品电容量越大,影响越大 B.试品电容量越小,影响越小 C.试品电容量越小,影响越大 D.与试品电容量的大小无关
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试品绝缘表面脏污、受潮,在试验电压下产生表面泄漏电流,对试品tgδ和C测量结果的影响程度是()
A.试品电容量越大,影响越大 B.试品电容量越小,影响越小 C.试品电容量越小,影响越大 D.与试品电容量的大小无关
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现场测量tgδ时,往往出现-tgδ,阐述产生-tgδ的原因
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