THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统如果报元件温度故障，可能是（）

THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统单侧元件温度接近环温时，可能是造成的（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统板温过高或过低都会造成板温自检（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头手动调整制冷后，元件制冷电流大约为（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头元件温度正常值范围是（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统板温比正常值偏高很多，容易造成（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元温传感器电缆断路,会影响（） THDS（哈科所）探测站红外轴温探测系统中对于磁钢描述正确的是（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统单侧元件温度接近环温时，可能是造成的（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头手动调整制冷后，元件制冷电流大约为（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元件温度与正常值偏离较大，就会造成探头测温（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统如果报，现象是板温与正常值偏离较大，可能是温度转换盒故障（） 在THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统中环温插头松动的故障现象是（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头碲镉汞元件温度调整，具有种调整制冷方式（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头手动调整制冷后，元件制冷电流大约为（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头的元件温度是由控制箱内的控制的（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统如果报热敏探头板温故障，现象是板温与正常值偏离较大，可能是故障（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头的元件温度是由控制箱内的控制的（） THDS-B（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元件温度与正常值偏离较大，就会造成探头测温（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统板温传感器电缆断路,造成环温显示-50度，会影响（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统环温传感器电缆断路,造成环温显示-50度，会影响（）