由于被试品电容量较小，一般只要有相应电压等级的低频试验变压器即可。

工频高电压通常采用高压试验变压器来产生。对电容量较大的被试品，可以采用（）产生高电压。 绝缘介质在交流电压作用下，其中电容性的电流的大小与被试品的电容量大小有关。 绝缘介质在交流电压作用下，其中电容性的电流的大小与被试品的电容量大小有关。 绝缘介质在交流电压作用下其中电容性的电流的大小与被试品的（B电容量）大小有关（） 绝缘介质在交流电压作用下，其中电容性的电流的大小与被试品的电容量大小有关（） 简述测量小电容量试品绝缘电阻的操作步骤？ 当被试品本身电容量较大时，可采用串联谐振法进行交流耐压试验（） 当被试品本身电容量较大时，可采用串联谐振法进行交流耐压试验（） 试品绝缘表面脏污、受潮，在试验电压下产生表面泄漏电流，对试品tanδ和C测量结果的影响程度与试品电容量的大小无关。（） 试品绝缘表面脏污，受潮，在试验电压下产生表面泄漏电流，对试品介损和电容量测量结果的影响程度是（） 当被试品本身电容量较大时，可采用串并联谐振法进行交流耐压试验。 外施交流耐压试验细则规定在试验大电容量的被试品时，应在（ ）直接测量试验电压，并与被试品并接球隙进行保护。必要时可在调压器输出端（ ）适当的电阻。 在试品的电容量很大的场合，用工频交流高电压进行绝缘试验时会出现很大的（） 对于电容量较大的试品 （例如套管、互感器等），测量 tanδ能有效地发现 局部集中性缺陷和整体分布性缺陷 。但对电容量较小的试品 （例如大中型发 电机、变压器、电力电缆、电力电容器等）测量 tanδ只能发现整体分布性 缺陷（） 对于电容量较大的试品 （例如套管、互感器等），测量 tanδ能有效地发现 局部集中性缺陷和整体分布性缺陷 。但对电容量较小的试品 （例如大中型发 电机、变压器、电力电缆、电力电容器等）测量 tanδ只能发现整体分布性 缺陷 。 有绕组的被试品进行电容量和介质损耗因数试验时，与被试部位相连的所有绕组端子连在一起加压，其余绕组端子均（）。 测量绝缘电阻前，首先断开试品的电源，拆除或断开对外的（），并将其（）放电。对电容量较大的试品，必须（）。 直流高电压试验，试验小电容量的试品并要求准确读取电流值时，例如测量带并联电阻的阀型避雷器电导电流时，应加滤波电容器。滤波电容器一般取（）。 直流高电压试验，试验小电容量的试品并要求准确读取电流值时，例如测量带并联电阻的阀型避雷器电导电流时，应加滤波电容器。滤波电容器一般取（） 随着试验变压器漏抗和试品电容量的增大，容升也增大（）