块规是一种广泛用于测量表面粗糙度的量具。

干涉法是利用光学（）测量表面粗糙度方法 中国大学MOOC: 比较法测量表面粗糙度时需要用到表面粗糙度样板。 测量表面粗糙度时,规定取样长度是为了 塞尺是一种用于测量两工件表面间隙的薄片式量具。 测量表面粗糙度时，取表面轮廓支承长度率作为评定参数，记为（） 测量表面粗糙度时，应全面考虑，如工件表面形状精度和波度等（） 光切法是指利用光切原理来测量表面粗糙度的方法。 测量表面粗糙度参数值必须确定评定长度的理由是（）。 测量表面粗糙度时应考虑全面，如工件表面的形状精度和波度等（） 塞尺也称厚薄规，是一种用于测量工件两表面（）的薄片式量具。 电动轮廓仪是利用针指法测量表面粗糙度的仪器，属于直接测量法（ ） 表面粗糙度量值越小，即表面光洁程度越高。 表面粗糙度量值越大，即表面光洁程度越高（） （）是用于直接测量角度的一种量具 块规是机器制造中最精密的一种量具，它的用途有（） 万能角度尺只是测量工件角度的一种角度量具（） 测量表面粗糙度方法有比较法、光切法、干涉法、感触法。 测量表面粗糙度时,规定取样长度的目的在于减弱________、排除宏观________的影响 百分表也可以用来测量表面粗糙度过大的工件。 测量表面粗糙度方法有比较法、光切法、干涉法、感触法（）