CSK-1A试块R100mm的反射面主要用来测试斜探头的折射角（）

CSK-1A试块测量R50、R100阶梯圆曲面同时获得两个反射回波是用来（） CSK-ⅢA试块的反射体孔径是φ1mm（） 可利用CSK-1A试块R50和R100两个曲面测定斜探头分辨率（） CSKⅠA试块上R100和R50两个阶梯圆弧面可用来调节横波扫描速度和探测范围。 CSKⅠA试块上R100和R50两个阶梯圆弧面可用来调节横波扫描速度和探测范围（） CSK-1A试块100圆弧面可测定（） CSK-IA试块利用R50和R100校订时基线或测定斜探头的（） CSK-1A试块利用试块直角棱边测定斜探头的（） 用CSK-ⅠA试块测定一斜探头的前沿长度L0和K值。用R100弧面测试，找到最高波，此时探头前沿至R100弧面端点距离M为85mm。用Ф50孔测试，找到最高波此时探头前沿至试块端面的距离L为78mm。试计算此探头的前沿长度l0和K值。 CSK-1A试块利用和R100来调整声波的探测范围或测定斜探头的入射点（前沿长度）（） 测定斜探头K值时，应探测CSK—IA试块圆弧面 测定斜探头K值时，应探测CSK—IA试块圆弧面 利用CSK-1试块上∮50mm曲面和∮1.5mm横孔可测定斜探头（） 利用CSK-1A试块上∮50mm曲面和∮1.5mm横孔可测定斜探头（） CSK-ⅠA、CSK-ⅢA、CSK-Ⅳ试块主要用于制作横波距离-波幅曲线、校准斜探头的K值、横波扫描速度和检测灵敏度等（） 利用CSK-1A试块测定斜探头分辨力（） ⅡW试块的厚度（）mm，宽度（）mm，长度为200mm可用来校准探伤时的测定范围，用R100的弧面和R100圆心处的刻槽可以测定斜探头的（）和（） CSK-1A试块利用厚度25mm和高度100mm测定探伤仪的（） CSK-1A试块利用厚度25mm和高度100mm测定探伤仪的（） CSK-ⅡA试块上的人工反射体是Φ1×6（）