波长色散X射线荧光K系谱线相对强度在不同元素间变化范围较大，测得的准确度也较高，而L和M谱线系的相对强度变化较小（）

波长色散X射线荧光光谱仪的检定周期为（） 波长色散X射线荧光光谱仪当探测器记录的X射线强度太高时，计数率和X射线真实强度不成正比，这种现象称作（）现象 波长色散X射线荧光光谱仪初级准直器的作用是将（）的X射线变成（）的射线束 波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体对温度的变化较敏感，温度变化会引起晶体面间距值的变化，导致谱线的位移。 每种元素的特征X射线，包含一系列波长确定的谱线，且其强度比也是确定的，当Kα线强度为5kcps时，Kβ线的强度约为（） X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的（）波长所组成，其中各条特征谱线的（）强度各不相同 波长色散X射线荧光光谱仪的X射线探测器是一种将X射线（）转换成（）的装置 X射线荧光光谱分析中，各元素的同系谱线激发电位和同系特征光谱的波长，随原子序数的大小而变化，与管电压和管电流的大小也有关。 波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱，尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。 波长色散X射线荧光光谱仪的原级谱线滤光片位于X射线管与（）之间，是一种能（）吸收某波长或波带的金属薄膜 X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（） 能量色散X射线荧光光谱仪是利用X射线荧光具有不同（）的特点，将其分开，依靠（）探测器来检测 元素的特征X射线相对强度是确定的，当Kα2的强度是50Kcps时，则Kα1的强度为（）Kcps 波长色散X射线荧光光谱仪单色器由一对光束和（）元件组成 波长色散X射线荧光光谱仪上，在晶体和探测器之间的光束是（）光束 色散型X射线荧光光谱仪分为（） 波长色散X射线荧光光谱仪的精密度以20次连续重复测量的（）表示 X线波长越短，强度越大，产生的散射线就越少。 X线波长越短，强度越大，产生的散射线就越少（） X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。