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用直探头在工件端面探测离侧壁极近的小缺陷时,探头最不利的探测位置是()
单选题
用直探头在工件端面探测离侧壁极近的小缺陷时,探头最不利的探测位置是()
A. 尽可能靠近侧壁;
B. 离侧壁10mm;
C. 离侧壁一个探头直径的距离处;
D. 离侧壁二个探头直径的距离处。
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用直探头在工件端面探测离侧壁极近的小缺陷时,探头最不利的探测位置是()
A.尽可能靠近侧壁; B.离侧壁10mm; C.离侧壁一个探头直径的距离处; D.离侧壁二个探头直径的距离处。
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单选题
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答案
判断题
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答案
判断题
检测小型工件时,为了提高缺陷定位定量精度宜选用小晶片探头()
答案
单选题
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答案
主观题
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答案
判断题
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答案
多选题
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答案
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