哈科所THDS系列红外线轴温探测系统探头输出溢出故障产生原因及判断方法

THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头元件温度正常值范围是（） THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头的动态噪声超标必须要更换光子探头（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头元件温度异常可能与光子探头有关（） THDS（哈科所）红外轴温探测系统，板盘温度越高，探头所测得的轴温也相应提高（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统热敏探头板温比正常值偏高很多，容易造成（） THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头的静态噪声是恒定不变的（） THDS-A（哈科所）红外轴温探测系统，热靶表面变色会造成探头反馈温度异常（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头的静态噪声是恒定不变的（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头手动调整制冷后，元件制冷电流大约为（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头元件温度正常值范围是（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头手动调整制冷电流的调整时间为（） THDS-A（哈科所）红外轴温探测系统，板盘温度越高，探头所测得的轴温也相应提高（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，板温度越高，探头所测得的轴温也相应提高（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头手动调整制冷电流的调整时间为（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元件温度与正常值偏离较大，就会造成探头测温（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头手动调整制冷后，元件制冷电流大约为（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统探头温控板是控制温度的电路板（） THDS（哈科所）红外轴温探测系统，探头插头松动会造成元件温度异常，无法正常采集信号（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，热靶表面变色会造成探头反馈温度异常（） THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统，热靶表面变色会造成探头反馈温度异常（）