X射线测厚仪可分为测厚仪和测厚仪两种

X荧光测厚仪优点有（） X射线测厚仪是利用被测带钢对射线的（），测量出带材的厚度。 板带轧制常用的测厚仪采用的射线源有α射线、（）和γ射线。 板带轧制常用的测厚仪采用的射线源有α射线、（）和γ射线 目前使用最广泛的超声测厚仪是脉冲反射式测厚仪。 手工实测带钢厚度与测厚仪读数偏差为（）时说明测厚仪不准。 微电子领域内，下列测厚仪中属于有台阶的测厚仪为（）。 核子测厚仪，分为透射和反散射。透射测厚仪和密度计类似。，利用放射性同位素发出的，通过透射射线强度不同而改变的原理非基础式测量仪（） X射线测厚仪影响测量信号的常数类因素主要有响应时间和射线准直性等（） X射线测厚仪校准时使用常温的标准板，不需要进行温度系数的补正（） 多功能测厚仪中灯丝电流IFL是指X射线管加热灯丝时的所需电流（） γ射线反射式测厚仪测量的板带厚度范围是（） 若测厚仪开机后没有任何反应，说明测厚仪可能出现了电池失效故障（） 围尺法中的测厚仪为超声波测厚仪，误差不大于m（） 磁性测厚仪用于测量（） 便携式γ射线反射式测厚仪一次测量时间（） 轧机机架有台测厚仪（） 电涡流测厚仪用于测量（） 超声波测厚仪用来（） BF002围尺法中的测厚仪为超声波测厚仪，误差不大于mm（）