AFM通常用来观测样品表面形貌。
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AFM通常用来观测样品表面形貌（）
A.正确 B.错误
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AFM通常用来观测样品表面形貌。
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AFM可观测样品内部形貌特征。
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AFM的探针针尖与样品表面直接接触，所以测量时会损伤样品（）
A.正确 B.错误
答案
对样品进行表面形貌分析时应使用()。
A.X射线衍射(XRD) B.透射电镜(TEM) C.扫描电镜(SEM)
答案
仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是
A.背散射电子 B.二次电子 C.吸收电子 D.透射电子 E.俄歇电子
答案
仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是()。
A.背散射电子 B.二次电子 C.吸收电子 D.透射电子
答案
机械加工中描述表面微观形貌误差最常用的参数是（）。
A.轮廓支撑长度率Rm B.轮廓算术平均差值 C.轮廓最大高度 D.轮廓偏差
答案
液体闪烁探测器通常用来测量样品的哪一种射线（）。
A.γ射线 B.β射线 C.α射线 D.中子 E.以上都不是
答案
液体闪烁探测器通常用来测量样品的哪一种射线（）
A.γ射线 B.低能β射线 C.α射线 D.中子 E.以上都不是
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液体闪烁探测器通常用来测量样品的哪一种射线？（）
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液体闪烁探测器通常用来测量样品中的哪一种射线（）
液体闪烁探测器通常用来测量样品中的哪一种射线（）
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