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使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时,所测的结果()。
单选题
使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时,所测的结果()。
A. 小于实际尺寸
B. 接近声束宽度
C. 稍大于实际尺寸
D. 等于晶片尺寸
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单选题
使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时,所测的结果()。
A.小于实际尺寸 B.接近声束宽度 C.稍大于实际尺寸 D.等于晶片尺寸
答案
判断题
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答案
判断题
在锻件检测中,对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用半波高度法测定缺陷的指示长度或面积。
答案
判断题
测长法一般适用于测定直径远小于声束截面的缺陷的大小()
答案
判断题
缺陷尺寸小于声束截面时,一般采用测长法来确定缺陷的大小()
答案
判断题
在锻件检测中, 对于尺寸小于声束截面的缺陷一般采用测长法来测定缺陷的指示面积。
答案
判断题
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答案
判断题
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答案
单选题
缺陷尺寸小于声束截面时,一般采用来确定缺陷的大小()
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答案
多选题
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答案
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