登录/
注册
题库分类
下载APP
帮助中心
首页
考试
搜题
APP
当前位置:
首页
>
查试题
>
试件内部的、光滑的、片状的与探测面垂直的缺陷,能有效发现缺陷的探伤方法是()
多选题
试件内部的、光滑的、片状的与探测面垂直的缺陷,能有效发现缺陷的探伤方法是()
A. 串列式探伤
B. 斜探头探伤
C. 双晶片直射法
D. 阵列式探伤
查看答案
该试题由用户375****56提供
查看答案人数:10657
如遇到问题请
联系客服
正确答案
该试题由用户375****56提供
查看答案人数:10658
如遇到问题请
联系客服
搜索
相关试题
换一换
多选题
试件内部的、光滑的、片状的与探测面垂直的缺陷,能有效发现缺陷的探伤方法是()
A.串列式探伤 B.斜探头探伤 C.双晶片直射法 D.阵列式探伤
答案
单选题
与探测面垂直的内部平滑缺陷,最有效的探测方法是:()
A.单斜探头法 B.单直探头法 C.双斜探头前后串列法 D.分割式双直探头法
答案
单选题
59与探测面垂直的内部平滑缺陷,最有效的探测方法是()
A.A 、单斜探头法 B.B 、 单直探头法 C.C 、 双斜探头前后串列法 D.D 、分割式双直探头法
答案
主观题
与探测面垂直的内部平滑缺陷,最有效的探伤方法是()探伤。
答案
判断题
与探测面垂直的内部平滑缺陷,最有效的探测方法是双斜探头前后串列法()
答案
单选题
主要用来发现与探测面平行的片状缺陷的双探头法是()。
A. 交叉式 B. V型串列式 C. K型串列式 D. 串列式
答案
单选题
焊缝内部与探测面呈45°倾斜的平滑片状缺陷,最有效的探伤方法是()
A.单探头纵波法 B.单探头横波法 C.双斜探头前后串列法 D.双斜探头V形法
答案
单选题
厚钢板内部与探测面呈45°倾斜的平滑片状缺陷,最有效的探伤方法是()
A.单探头垂直法 B.单探头斜射法 C.双斜探头前后串列法 D.都可以
答案
判断题
探头探测与波束轴线垂直的缺陷最易发现()
答案
单选题
直射法探伤时,试件的探测面应选在与缺陷最大表面面上()
B.相平行的
答案
热门试题
直探头只能发射和接受纵波,波束轴线垂直于探测面,主要用于探测与探测面平行的缺陷()
纵波直射法探测平板形试件时,如果仪器工作条件和耦合状态良好,试件材质衰减很小,但探伤图形中既无缺陷波,又无底波,这是由于试件中存在与探测垂直的大缺陷()
单晶直探头接触法检测中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为()。
测量绝缘电阻不能有效发现的缺陷是
测量绝缘电阻不能有效发现的缺陷是 ( ) 。
测量介损能有效地发现的缺陷( )。
测量绝缘电阻不能有效发现的缺陷是( )。
从各方面都能探测到的缺陷是片状缺陷()
从探测面到能发现缺陷的最小距离,称为盲区()
测量绝缘电阻不能有效的发现的缺陷是()
用探测面为平面的对比试块中的2mm平底孔校准的探伤灵敏度,去探测一个探测面为圆柱面的试件,发现一个深度和回波高度均与上述试块平底孔回波相同的缺陷,则该缺陷的当量()
晶片与探测面平行,使超声波垂直于探测面进入探测材料的检验方法称为()
测量绝缘电阻能有效地发现设备()等绝缘缺陷()
测量介损不能有效地发现的缺陷类型 () 。
测量绝缘电阻不能有效发现绝缘中的局部缺陷()
测量绝缘电阻不能有效发现绝缘中的局部缺陷 。
与声束不垂直的光滑平面状缺陷反射波的显示不是()。
通过测量绝缘电阻能有效地发现下列哪种缺陷()
进行水泥混凝土抗折强度试验,首先应擦干试件表面,检查试件,如发现试件中部()长度内有蜂窝麻面等缺陷,则该试件废弃。
焊缝用串列探头进行扫查,主要用于检测的缺陷。答案——垂直于探测面
购买搜题卡
会员须知
|
联系客服
免费查看答案
购买搜题卡
会员须知
|
联系客服
关注公众号,回复验证码
享30次免费查看答案
微信扫码关注 立即领取
恭喜获得奖励,快去免费查看答案吧~
去查看答案
全站题库适用,可用于E考试网网站及系列App
只用于搜题看答案,不支持试卷、题库练习 ,下载APP还可体验拍照搜题和语音搜索
支付方式
首次登录享
免费查看答案
20
次
微信扫码登录
账号登录
短信登录
使用微信扫一扫登录
获取验证码
立即登录
我已阅读并同意《用户协议》
免费注册
新用户使用手机号登录直接完成注册
忘记密码
登录成功
首次登录已为您完成账号注册,
可在
【个人中心】
修改密码或在登录时选择忘记密码
账号登录默认密码:
手机号后六位
我知道了
APP
下载
手机浏览器 扫码下载
关注
公众号
微信扫码关注
微信
小程序
微信扫码关注
领取
资料
微信扫码添加老师微信
TOP