登录/
注册
题库分类
下载APP
帮助中心
首页
考试
搜题
APP
当前位置:
首页
>
查试题
>
主要用来发现与探测面平行的片状缺陷的双探头法是()。
单选题
主要用来发现与探测面平行的片状缺陷的双探头法是()。
A. 交叉式
B. V型串列式
C. K型串列式
D. 串列式
查看答案
该试题由用户949****69提供
查看答案人数:23997
如遇到问题请
联系客服
正确答案
该试题由用户949****69提供
查看答案人数:23998
如遇到问题请
联系客服
搜索
相关试题
换一换
单选题
主要用来发现与探测面平行的片状缺陷的双探头法是()。
A. 交叉式 B. V型串列式 C. K型串列式 D. 串列式
答案
单选题
双探头探伤方式中,主要用来发现与检测面平行的面状的缺陷的双探头排列方式是()
A.并列式 B.V形式 C.K形式 D.串列式
答案
判断题
直探头只能发射和接受纵波,波束轴线垂直于探测面,主要用于探测与探测面平行的缺陷()
答案
判断题
纵波直探头法主要用于检测与检测面平行的缺陷。
答案
判断题
与探测面垂直的内部平滑缺陷,最有效的探测方法是双斜探头前后串列法()
答案
主观题
斜探头通常是经过()来实现横波探伤的。主要用于探测与探测面()或()的缺陷
答案
单选题
单探头探测法与波束轴线缺陷最易发现()
A.平行的 B.垂直的 C.倾斜的 D.以上都不对
答案
单选题
单探头法探测与波束轴线缺陷最易发现()
A.平行的 B.垂直的 C.倾斜的
答案
单选题
探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法,称为()。
A.斜射法 B.水浸法 C.接触法 D.穿透法
答案
单选题
接近探测面并与其平行的缺陷,用下列哪种探头检出效果最佳:()
A.联合双探头 B.普通直探头 C.表面波探头 D.横波斜探头
答案
热门试题
焊缝用串列探头进行扫查,主要用于检测的缺陷。答案——垂直于探测面
探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法称呼错误的是()
试件内部的、光滑的、片状的与探测面垂直的缺陷,能有效发现缺陷的探伤方法是()
双探头法主要用于发现单探头法难以检出的焊缝内部大而圆的伤损()
探头探测与波束轴线垂直的缺陷最易发现()
用串联式探头进行操作扫查,主要用来检测()的缺陷。
HT-9D钢轨焊缝探伤仪双探头串列式扫查,发射和接收探头放置在工件同侧,主要用于发现垂直的面状缺陷和体积状缺陷,现场应用于扫查()
对筒类锻件采用纵波直探头从端面检测主要发现与轴线平行的径向缺陷。
70°探头主要探测等缺陷()
HT-9D钢轨焊缝探伤仪单探头扫查主要用于发现探测范围内轨头的面状缺陷和体积状缺陷,现场应用于角及轨腰的检查()
单直探头法或单斜探头法都能发现的缺陷是线状缺陷()
渗透探伤主要用来探测非铁磁性材料的()的焊接缺陷。
双探头法探测时两探头的相对移动不必同步或协调,只要能使缺陷回波为另一探头所接受()
焊缝轨腰双探头采用串列式反射法,该方法适用于探测焊缝中垂直轨面的片状缺陷,如未焊合()
渗透探伤主要用来探测非铁磁性材料的() 的焊接缺陷。
双探头K型探伤时,两探头处于同一探测面()
在超声波探伤中,斜探头主要用于探测什么缺陷?《探伤岗位培训教材》
利用双晶直探头确定缺陷边界或指示长度时,探头移动方向应与探头分割面平行。
利用双晶直探头确定缺陷边界或指示长度时,探头移动方向应与探头分割面平行()
探头晶片与缺陷表面不平行的超声波探伤法,称为斜射法。
购买搜题卡
会员须知
|
联系客服
免费查看答案
购买搜题卡
会员须知
|
联系客服
关注公众号,回复验证码
享30次免费查看答案
微信扫码关注 立即领取
恭喜获得奖励,快去免费查看答案吧~
去查看答案
全站题库适用,可用于E考试网网站及系列App
只用于搜题看答案,不支持试卷、题库练习 ,下载APP还可体验拍照搜题和语音搜索
支付方式
首次登录享
免费查看答案
20
次
微信扫码登录
账号登录
短信登录
使用微信扫一扫登录
获取验证码
立即登录
我已阅读并同意《用户协议》
免费注册
新用户使用手机号登录直接完成注册
忘记密码
登录成功
首次登录已为您完成账号注册,
可在
【个人中心】
修改密码或在登录时选择忘记密码
账号登录默认密码:
手机号后六位
我知道了
APP
下载
手机浏览器 扫码下载
关注
公众号
微信扫码关注
微信
小程序
微信扫码关注
领取
资料
微信扫码添加老师微信
TOP