直探头空载始波宽度的测试时，将直探头置于CSK－IA标准试块上厚度，调节探伤仪（）

直探头分辨力测试若h=O或两波能完全分开，则取（） 直探头的压电晶片发射纵波，斜探头的压电晶片发射横波、表面波或板波。 直探头辐射透入试件的波，只能是纵波（） 相控阵探伤仪/直探头组合校验,将直探头置于试块,应用线性扫描图像,调用闸门A定位40mm深度的φ2mm平底孔缺陷图像（） 相控阵探伤仪/直探头组合校验,将直探头置于CSII-1试块,应用线性扫描图像,调用闸门A定位40mm深度的平底孔缺陷图像（） 相控阵探伤仪/直探头组合校验,将直探头置于CSII-1试块,应用线性扫描图像,调用闸门A定位深度的φ2mm平底孔缺陷图像（） 70度探头属双晶直探头（） 超声波常用探头种类有直探头、斜探头、（）、（） 探头回波频率测试时，将直探头置于要求的位置上调节探伤仪，使第一次底波前沿对准水平刻度“5“，第二次底波前沿对准水平刻度”10“（） 用直探头检测锻件时，引起底波明显降低或消失的因素是（）。 超声波探头，横波探头和纵波直探头回波频率（） 相控阵探伤仪/直探头组合校验,将直探头置于CSII-1试块,应用线性扫描图像,调用闸门A定位40mm深度的φ2mm平底孔缺陷图像（） 用2.5MHz直探头探伤，将200mm厚的锻件底波调节到时基线水平刻度10。如改用5MHz直探头，仪器所有旋钮保持不变，则200mm底波出现在（） 在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因是（） 用直探头检验钢锻件时，引起底波明显降低或消失的因素有（） 用直探头检验钢锻件时，引起底波明显降低或消失的因素有（） 超声波检测常用的探头种类有直探头、斜探头、组合双晶探头、水浸探头（） 探头吸收块吸收不良时，会在始波后出现一些杂波，可以采用更换探头的方法来鉴别探头杂波（） 在直探头探伤，用2.5MHz探头，调节锻件200mm底波于荧光屏水平基线满量程刻度10。如果改用5MHz直探头，仪器所有旋钮保持不变，则200mm底波出现在：（） 在直探头探伤，用2.5MHz探头，调节锻件200mm底波于荧光屏水平基线满量度10。如果改用5MHz直探头，仪器所有旋纽保持不变，则200mm底波出现在（）