阻塞范围是将直探头测得的阶梯试块50mm厚处，底波为满幅度的80%的灵敏度，提高2dB，探测阶梯试块上20mm处底面，如此时底面回波高于80%，则该通道阻塞范围以此类推（）

利用CSK-1试块上∮50mm曲面和∮1.5mm横孔可测定斜探头（） 利用CSK－ⅠA标准试块，在斜探头K值测量中，已知斜探头前沿为12mm ， 将斜探头前沿对准ф50mm孔在显示屏呈现回波最高幅度时，测得斜探头前沿至CSK－ⅠA标准试块端部距离为83mm，则斜探头K值为（）。 直探头空载始波宽度的测试时，将直探头置于CSK－IA标准试块上厚度，调节探伤仪（） 直探头超声检测，用2.5MHz探头，调整锻件200mm底波于荧光屏水平基线满量程刻度10处，如果改用5MHz直探头，仪器所有旋纽保持不变，则200mm底波出现在（） 测试阻塞只能在阶梯试块上进行（） 测试探头楔内回波时，0度探头可以阶梯试块上、斜探头可在WGT-3试块上测试（） 利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。 利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围（） 斜探头空载始波宽度的测试时，先将直探头置于CSK－IA标准试块上厚度处，调节探伤仪，定出标记（） 一个经校正的超声探测系统，从铝试块中深度为75mm，直径为4mm平底孔上得到50mm的波高显示，在检验铝锻件时，表面状态和材质，都与试块相同，若从深度为75mm处得到50mm波高显示，则缺陷的面积可能是（） 一个经校正的超声探测系统，从铝试块中深度为75mm，直径为4mm平底孔上得到50mm的波高显示，在检验铝锻件时，表面状态和材质，都与试块相同，若从深度为75mm处得到50mm波高显示，则缺陷的面积可能是（） 相控阵探伤仪/直探头组合校验,将直探头置于试块,应用线性扫描图像,调用闸门A定位40mm深度的φ2mm平底孔缺陷图像（） 回波宽度测试，连接石英标定探头并置于1标准试块上厚度25mm处，利用第二次底波B2和第四次底波B4调整扫描比例（） 在直探头探伤，用2.5MHz探头，调节锻件200mm底波于荧光屏水平基线满量程刻度10。如果改用5MHz直探头，仪器所有旋钮保持不变，则200mm底波出现在：（） 在直探头探伤，用2.5MHz探头，调节锻件200mm底波于荧光屏水平基线满量度10。如果改用5MHz直探头，仪器所有旋纽保持不变，则200mm底波出现在（） CSK-1A试块Φ50有机玻璃可以测定直探头的盲区和 0度探头的灵敏度基准波为WGT-3试块上110mm处的底面反射回波（） 有一个厚度为300mm的锻件需做直探头纵波扫查，现欲利用CSK-Ⅰ试块厚100mm的底面将仪器的扫描速度调节为1：4，使底波B2、B4分别对准荧光屏的水平刻度（）就可以实现 阶梯试块主要用于测定0°探头和0°通道的（） 小角度纵波探头测距的标定c将6。－8。小角度纵波探头置于TZS-R试块C面上探测A面上棱角反射波最高点，使反射波前沿在仪器荧光屏水平刻度线第四大格上，已知TZS-R试块长200mm，则每一大格约代表水平长度50mm（）