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利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离,只能测定直探头盲区的大致范围()

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与IIW试块相比,CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。 与IIW试块相比,CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力() 斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。 斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定() CSK-ⅠA试块上φ50、φ44、φ40三孔的台阶,可用来测定斜探头的分辨力() CSK-IA试块的Φ50台阶孔有利测定斜探头的() CSK-1A试块Φ50有机玻璃可以测定直探头的盲区和 IIW试块测定斜探头的入射点,在探测任何声速的试件时其位置不变。 IIW试块测定斜探头的入射点,在探测任何声速的试件时其位置不变() 利用SK-1A试块上直角棱边可测定斜探头() CSK-IA试块利用有机玻璃块测定直探头分辨力和穿透力() 用IIW标准试块测定斜探头的折射角度,在探测任何声速的试件时,此值() CSK-1A试块利用试块直角棱边测定斜探头的() CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶,可用来测定斜探头的分辨力。 可利用CSK-1A试块R50和R100两个曲面测定斜探头分辨率() 已知探头折射角为60度-75度,探头置于CSK-1A试块上移动探头,使Φ50圆弧面孔波最大,测出探头前沿致试块侧面的距离为X,则该斜探头折射角β=ayctanX+L-35/70() CSK-1A试块的上φ44、φ50台阶孔,是测定() CSK-IA试块利用试块直角棱边测定斜探头的声轴直角() 利用CSK-1A试块测定斜探头分辨力() CSK-IA试块利用R50和R100校订时基线或测定斜探头的()
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