利用IIW试块50mm孔与两侧面距离，能测定直探头盲区的大致范围（）

CSK-IA试块利用有机玻璃块测定直探头的（） 阶梯试块不能测定0°探头（即直探头）的距离幅度和阻塞特性（） 利用CSK－ⅠA标准试块，在斜探头K值测量中，已知斜探头前沿为12mm ， 将斜探头前沿对准ф50mm孔在显示屏呈现回波最高幅度时，测得斜探头前沿至CSK－ⅠA标准试块端部距离为83mm，则斜探头K值为（）。 CSK-1A试块利用高度测定直探头分辨力（） IIW试块高mm（） 探头箱体两侧与轨枕侧面间距大于mm（） 测定钢轨探伤仪的阻塞范围时，纵波直探头置于阶梯试块50mm厚度处，波幅达80%时，再将灵敏度提高观察波幅高度（） CSK-IA试块的Φ50台阶孔有利测定斜探头的（） CSK-1A试块Φ50有机玻璃可以测定直探头的盲区和 IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。 IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变（） CSK-IA试块利用有机玻璃块测定直探头分辨力和穿透力（） 用IIW标准试块测定斜探头的折射角度，在探测任何声速的试件时，此值（） 轴Φ50mm与孔Φ50mm的配合是（） CSK-1A试块利用试块直角棱边测定斜探头的（） 斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定（） 斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。 用折射角50°的探头前后扫查测定一与探测面垂直的缺陷，如探头移动距离为50mm，则该缺陷的指示延伸度约为mm（） 可利用CSK-1A试块R50和R100两个曲面测定斜探头分辨率（） Φ50mm的孔与Φ50mm的轴相配合是（）