CSK-IA试块的Φ50台阶孔有利测定斜探头的（）

利用CSK-1A试块上∮50mm曲面和∮1.5mm横孔可测定斜探头（） 利用CSK-1试块上∮50mm曲面和∮1.5mm横孔可测定斜探头（） CSK-1A试块利用试块直角棱边测定斜探头的（） 利用CSK-1A试块测定斜探头分辨力（） WGT-3试块主要用于测定斜探头的（） CSK-IA试块利用试块直角棱边测定斜探头的声轴直角（） DB-H2试块主要用于测定斜探头的（） CSK-IA试块利用R50和R100校订时基线或测定斜探头的（） 测定斜探头K值时，应探测CSK—IA试块圆弧面 利用SK-1A试块上直角棱边可测定斜探头（） 测定斜探头K值时，应探测CSK—IA试块圆弧面 利用CSK－ⅠA标准试块，在斜探头K值测量中，已知斜探头前沿为12mm，将斜探头前沿对准ф50mm孔在显示屏呈现回波最高幅度时，测得斜探头前沿至CSK－ⅠA标准试块端部距离为83mm，则斜探头K值为（） 探头处于CSK-1A试块R100探测面时，可以测定斜探头的（） 利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。 利用IIW试块50mm孔与两侧面距离，能测定直探头盲区的大致范围（） 利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围（） 与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。 与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力（） 利用CSK－ⅠA标准试块，在斜探头K值测量中，已知斜探头前沿为12mm ， 将斜探头前沿对准ф50mm孔在显示屏呈现回波最高幅度时，测得斜探头前沿至CSK－ⅠA标准试块端部距离为83mm，则斜探头K值为（）。 DB-H2试块主要用于测定斜探头的距离幅度特性（）