X线头影测量定位下颌平面的描述中不正确的是（）
A. 通过下颌下缘最低部的切线
B. 下颌角点与下颌颏顶点间的连线
C. 通过颏下点与下颌角下缘相切的线
D. 通过颏前点与下颌角前切迹相切的线
E. 不同方法所获得到的下颌平面并不重合
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X线头影测量定位下颌平面的描述中不正确的是（）
A.通过下颌下缘最低部的切线 B.下颌角点与下颌颏顶点间的连线 C.通过颏下点与下颌角下缘相切的线 D.通过颏前点与下颌角前切迹相切的线 E.不同方法所获得到的下颌平面并不重合
答案
X线头影测量基准平面有（）。
答案
下列哪项X线头影测量平面为基准测量平面：()
A.面平面 B.全颅底平面 C.眼耳平面 D.下颌平面 E.牙合平面
答案
关于下颌第一磨牙牙合面的描述不正确是（）。
A.远中尖的三角嵴最短 B.颊侧尖短而圆 C.舌侧尖长而锐 D.颊舌径大于近远中径
答案
经X线头影测量分析表明：该患儿上颌骨生长不足，下颌骨生长过度。以下治疗措施正确的是
A.破除吮上唇习惯 B.拔除下颌第二乳磨牙残根，并制作缺隙保持器 C.促进上颌骨向前生长 D.抑制下颌骨向前生长 E.定期观察，择时行正畸或正颌外科治疗，现阶段不做任何治疗 F.现阶段只作心理或安慰治疗
答案
X线头影测量可做如下分析，除了（）
A.颅面部生长发育 B.双侧髁突对称性 C.牙、（牙合）、面畸形的机制分析 D.外科正畸的诊断和分析 E.矫治前后牙、（牙合）、颅面结构变化
答案
X线头影测量可做如下分析，除了
A.外科正畸的诊断和分析 B.牙、
、面畸形的机制分析 C.矫治前后牙、
、颅面结构变化 D.颅面部生长发育 E.双侧髁突对称性
、面畸形的机制分析 C.矫治前后牙、、颅面结构变化 D.颅面部生长发育 E.双侧髁突对称性 答案
X线头影测量可做如下分析，除了
A.颅面部生长发育 B.双侧髁突对称性 C.牙、
、面畸形的机制分析 D.外科正畸的诊断和分析 E.矫治前后牙、
、颅面结构变化
、面畸形的机制分析 D.外科正畸的诊断和分析 E.矫治前后牙、、颅面结构变化 答案
简述X线头影测量在口腔正畸学中的意义。
答案
简述X线头影测量在口腔正畸学中的意义
答案
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