X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步：第一步是利用入射量子的能量激发，第二步则是以特征X射线（荧光）的形式放出能量。

X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时，原级X射线光谱中连续光谱是构成（）的主要成分 X射线荧光光谱仪的X射线发生器由（）构成。 X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的（）波长所组成，其中各条特征谱线的（）强度各不相同 X射线荧光光谱仪的X射线分为两种即原级X射线和次级X射线，一般说来，原级X射线的波长比次级的长。 当用X射线照射物质时，除了发生（）等现象外，还能产生特征X射线荧光 通过测定试样中特征X射线的波长，便可确定存在何种元素，即为X-荧光光谱定性分析（） X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（） X射线管会产生和特征辐射两种X射线（） 当X射线管电压低于临界电压时仅可以产生连续X射线;当X射线管电压超过临界电压就可以产生特征X射线和连续X射线。() 什么是X射线？什么是特征X射线（标识X射线）谱？特征X射线可用于对材料进行哪两方面的分析？ 用X射线照射样品物质所产生的（）称为X射线荧光 X射线荧光光谱仪可测出样品中的：（）. X射线荧光分析连续X射线中短波限与（）有关 X射线荧光光谱法中，分析微量Si的样品不能用（）磨料抛光 X射线荧光光谱仪包涵下述（）类型（） 色散型X射线荧光光谱仪分为（） X射线荧光分析法所应用的元素固有的荧光X射线波长为（） X射线荧光光谱分析形成误差的可能性是( )。 X射线荧光光谱标准加入法可通过（）求得试样的分析结果 原子受高能辐射，其外层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法（）