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测定纵波远距离分辨力是ⅡW试块的主要用途之一()
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测定纵波远距离分辨力是ⅡW试块的主要用途之一()
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测定纵波远距离分辨力是ⅡW试块的主要用途之一()
答案
判断题
与IIW试块相比,CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。
答案
判断题
与IIW试块相比,CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力()
答案
单选题
利用CSK-1A试块测定斜探头分辨力()
A.厚度25mm B.R50和R100 C.高度85.91、100mm D.Ф40.Ф44、Ф50曲面
答案
单选题
半圆试块的主要用途是()
A.测定斜探头入射点 B.调整探测范围和扫描速度 C.调节探伤灵敏度 D.以上都包括
答案
多选题
试块的主要用途有()
A.确定合适的探伤方法 B.确定和校验探伤灵敏度 C.评估缺陷大小 D.测定和校验探伤仪和探头的性能
答案
多选题
半圆试块的主要用途()
A.测定斜探头入射点 B.调整探测范围 C.调整扫描速度 D.调节探伤灵敏度
答案
单选题
CSK-1A试块利用高度测定直探头分辨力()
A.85,91,100mm B.Φ40,Φ44,Φ50 C.20,25,100mm D.Φ1.5,Φ40,Φ44
答案
主观题
简述荷兰试块的主要用途?
答案
单选题
哪个不是IIW试块的主要用途()
A.校验超声检测仪的水平线性 B.测定直探头与超声检测仪组合的远场分辨率 C.测定斜探头的入射角 D.估测斜探头与超声检测仪组合的盲区
答案
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CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶,可用来测定斜探头的分辨力。
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