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沾污引起的电学缺陷引起(),硅片上的管芯报废以及很高的芯片制造成本。
单选题
沾污引起的电学缺陷引起(),硅片上的管芯报废以及很高的芯片制造成本。
A. 不会影响成品率
B. 晶圆缺陷
C. 成品率损失
D. 晶圆损失
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单选题
沾污引起的电学缺陷引起(),硅片上的管芯报废以及很高的芯片制造成本。
A.不会影响成品率 B.晶圆缺陷 C.成品率损失 D.晶圆损失
答案
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答案
判断题
由于绳芯损坏而引起的绳径减小时,钢丝绳应报废。
答案
单选题
由于绳芯损坏而引起的绳径减小时,钢丝绳应报废。( )
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主观题
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答案
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答案
多选题
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答案
单选题
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答案
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