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测量介质损耗因数,通常不能发现大体积试品的局部缺陷。(&&)()

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判断题
测量介质损耗因数,通常不能发现大体积试品的局部缺陷。(&&)()
答案
单选题
测量介质损耗因数时,缺陷通常不能被发现()
A.小体积试品的局部缺陷 B.整体劣化 C.整体受潮 D.大体积试品的局部缺陷
答案
单选题
测量介质损耗因数 ,通常不能发现的设备绝缘缺陷是( )
A.整体受潮 B.整体劣化 C.小体积试品的局部缺陷整体受潮 D.大体积试品的局部缺陷
答案
主观题
测量介质损耗因数,通常不能发现的设备绝缘缺陷是( )
答案
单选题
测量介质损耗因数,通常不易发现()。
A.整体受潮 B.绝缘油劣化 C.小体积试品的局部缺陷 D.大体积试品的局部缺陷
答案
单选题
测量介质损耗 数,通常不能发现的设备绝缘缺陷是()
A.整体受潮 B.整体劣化 C.小体积试品的局部缺陷 D.大体积试品的局部缺陷
答案
多选题
测量介质损耗因数,对发现以下哪些缺陷较为有效?()
A.整体受潮 B.绝缘油劣化 C.小体积试品的局部缺陷 D.大体积试品的局部缺陷
答案
判断题
介质损耗因数tanδ试验,可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷()
答案
判断题
介质损耗因数tg∮试验,可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷()
答案
单选题
介损电桥测量小电容试品介质损耗因数时,采用( )接线较好。
A.正接线 B.反接线 C.对角接线 D.屏蔽接线
答案
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