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测量介质损耗因数,通常不能发现大体积试品的局部缺陷。(&&)()

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判断题
测量介质损耗因数,通常不能发现大体积试品的局部缺陷。(&&)()
答案
单选题
测量介质损耗因数时,缺陷通常不能被发现()
A.小体积试品的局部缺陷 B.整体劣化 C.整体受潮 D.大体积试品的局部缺陷
答案
主观题
测量介质损耗因数,通常不能发现的设备绝缘缺陷是( )
答案
单选题
测量介质损耗因数 ,通常不能发现的设备绝缘缺陷是( )
A.整体受潮 B.整体劣化 C.小体积试品的局部缺陷整体受潮 D.大体积试品的局部缺陷
答案
单选题
测量介质损耗因数,通常不易发现()。
A.整体受潮 B.绝缘油劣化 C.小体积试品的局部缺陷 D.大体积试品的局部缺陷
答案
单选题
测量介质损耗 数,通常不能发现的设备绝缘缺陷是()
A.整体受潮 B.整体劣化 C.小体积试品的局部缺陷 D.大体积试品的局部缺陷
答案
多选题
测量介质损耗因数,对发现以下哪些缺陷较为有效?()
A.整体受潮 B.绝缘油劣化 C.小体积试品的局部缺陷 D.大体积试品的局部缺陷
答案
判断题
介质损耗因数tanδ试验,可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷()
答案
判断题
介质损耗因数tg∮试验,可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷()
答案
单选题
介损电桥测量小电容试品介质损耗因数时,采用( )接线较好。
A.正接线 B.反接线 C.对角接线 D.屏蔽接线
答案
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