在THDS-A（哈科所）设备探测站中，板温可代表（）

在THDS-A设备（）探测站中，元温可代表（） 在THDS-A设备（）探测站中，靶温可代表（） 在THDS-A设备（）探测站中，板温可代表（） THDS-C（哈科所）探测站的探测站机柜内的设备包括（） 在THDS（哈科所）设备探测站中出现板温-50度或+150度，与无关（） THDS-C（哈科所）探测站的环温箱不存在于探测站机柜当中（） THDS-B（哈科所）探测站的环温箱不存在于探测站机柜当中（） THDS（哈科所）探测站环温传感器的型号是（） THDS（哈科所）探测站，光子探头板温异常产生的后果（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统板温过高或过低都会造成板温自检（） THDS（哈科所）设备探测站的光子探头元温异常，有可能对轴温采集造成的影响是（） 在THDS（哈科所）设备探测站中出现如果环温低于度时，提示环温故障（） 在THDS（哈科所）设备探测站实时数据中环温为-50度，不需要检查（） 在THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统中环温插头松动的故障现象是（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元温传感器电缆断路,会影响（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统板温过高或过低都会造成板温自检（） THDS（哈科所）探测站进行探头标定使用观测环温（） THDS（哈科所）探测站中，环温头应安装在环境下（） THDS-A（哈科所）探测站环温传感器的型号是（） THDS（哈科所）探测站,光子探头元温工作温度小于度（）