THDS（哈科所）红外轴温探测系统，热靶温度是由热靶上的AD590温度传感器传入控制箱的（）

THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统，热靶表面变色会造成探头反馈温度异常（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，如果报元件温度故障，可能是热靶故障（） THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统，如果报元件温度故障，可能是热靶故障（） THDS（哈科所）红外轴温探测系统，热靶曲线加热过快，可能会影响THDS（哈科所）设备的测温精度（） THDS（哈科所）红外轴温探测系统，热靶标定数据中，探头输出电压值随着热靶温度的升高而降低（） THDS-A（哈科所）红外轴温探测系统，热靶曲线加热过快，可能会影响THDS-A（哈科所）设备的测温精度（） THDS（哈科所）红外轴温探测系统中热靶标定数据中，板温至少应比热靶温度的低大约20℃（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，热靶标定数据中，探头输出电压值随着热靶温度的升高而降低（） THDS-A（哈科所）红外轴温探测系统中热靶标定数据中，板温至少应比热靶温度的低大约20℃（） THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统，热靶曲线加热过快，可能会影响THDS-B（哈科所）设备的测温精度（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元温高低变化不稳定，影响热靶曲线，会造成测温误差大（） THDS-A红外轴温探测系统，热靶曲线加热过快，可能会影响THDS-A（哈科所）设备的测温精度（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统中热靶标定数据中，板温至少应比热靶温度的低大约20℃（） THDS（哈科所）红外轴温探测系统，热靶挡板不到位无法用热靶标定来验证，必须用定标功能检查（） THDS（哈科所）红外轴温探测系统，热靶出现严重变色后，在热靶标定数据中能够体现出来（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元温高低变化不稳定，影响热靶曲线，会造成测温误差大（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，热靶曲线加热过快，可能会影响设备的测温精度（） THDS-A（哈科所）红外轴温探测系统，热靶挡板不到位无法用热靶标定来验证，必须用定标功能检查（） THDS（哈科所）红外轴温探测系统，左侧热靶曲线为一条竖直线，可能造成左侧探头测温正常（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，热靶出现严重变色后，在热靶标定数据中能够体现出来（）