X射线荧光仪是一种（）的分析方法

（）是X射线荧光光谱仪的分光器件。 X射线荧光分析法所应用的元素固有的荧光X射线波长为（） 原子受高能辐射，其外层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法（） X射线检查仪是一种利用X射线对各种不同成分密度的物质进行穿透，再通过信号转换，把物品内部的结构，图像反应在荧光屏幕上的仪器（） 用于能量色散X射线荧光分析仪的探测器主要有（） 激光就是X射线，X射线是一种激光。 X射线荧光光谱仪包涵下述（）类型（） 色散型X射线荧光光谱仪分为（） X射线荧光分析连续X射线中短波限与（）有关 能量色散X射线荧光光谱仪是利用X射线荧光具有不同（）的特点，将其分开，依靠（）探测器来检测 X射线荧光仪用P10气体是由（）混合而成 X射线荧光光谱仪灵敏度高 X射线荧光光谱仪可分为（）类。 X射线荧光分析描述X射线波长与原了序数之间关系的定律是（） 手持式X射线荧光光谱分析仪，不可检测下列哪些元素成分（） X光荧光（XRF）光谱产生的原因是（）。两种谱仪一种是（），另一种是（）。它们与波谱仪（WDS）和能谱仪（EDS）的区别是（）。 X射线荧光光谱分析中，适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。 台式X射线荧光镀层测厚仪和手持式X射线荧光光谱仪相比，更适合不规则样品的镀层检测（） X射线荧光光谱仪可测出样品中的：（）. X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时，原级X射线光谱中特征光谱是用于激发样品的主要光源。