THDS（哈科所）探测站，光子探头的红外器件的工作特性是（）

THDS（哈科所）探测站,光子探头元件温度异常会造成（） THDS-A（哈科所）探测站,光子探头元温工作温度小于度（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头元件温度正常值范围是（） THDS-B（哈科所）探测站的光子探头的主要光子器件是采用HgCdTe（锑镉汞作为核心元件）（） THDS-B（哈科所）探测站光子探头制冷电压由提供（） THDS-C（哈科所）探测站光子探头制冷电压由提供（） THDS（哈科所）探测站设备光子探头每侧曲线存储条（） THDS（哈科所）探测站，光子探头板温异常产生的后果（） THDS-C（哈科所）探测站,光子探头元温工作温度小于度（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头手动调整制冷后，元件制冷电流大约为（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头手动调整制冷电流的调整时间为（） THDS-B（哈科所）探测站,光子探头元件温度异常会造成（） THDS-C（哈科所）探测站的光子探头校曲线方式有（） THDS（哈科所）探测站更换光子探头后，以下做法正确的有（） THDS（哈科所）探测站中光子探头应满足以下技术要求（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头的元件温度是由控制箱内的控制的（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头手动调整制冷电流的调整时间为（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头手动调整制冷后，元件制冷电流大约为（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头元件温度超过正常值范围，有可能造成探头测温（） THDS（哈科所）探测站更换光子探头后,需要、探头重新标定、重新调整探头角度（）