THDS（哈科所）探测站,光子探头元件温度异常会造成（）
A. 测温误差大
B. 测温良好
C. 测温稳定
D. 测温不变
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THDS（哈科所）探测站,光子探头元件温度异常会造成（）
A.测温误差大 B.测温良好 C.测温稳定 D.测温不变
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THDS-B（哈科所）探测站,光子探头元件温度异常会造成（）
A.测温误差大 B.测温良好 C.测温稳定 D.测温不变
答案
THDS-A（）探测站,光子探头元件温度异常会造成（）
A.测温误差大 B.测温良好 C.测温稳定 D.测温不变
答案
THDS（哈科所）探测站中光子探头元件温度异常可能产生的原因是（）
A.热靶温控板故障 B.前放板故障 C.IO卡故障 D.制冷控制板故障
答案
THDS（哈科所）探测站，光子探头板温异常产生的后果（）
A.探头出现问题 B.无法正确测曲线 C.环温出现异常 D.影响轴温测温精度 E.不影响轴温测温精度
答案
THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头元件温度超过正常值范围，有可能造成探头测温（）
A.异常 B.正常 C.不变 D.以上都不对
答案
THDS-B（哈科所）探测站,光子探头元温异常，会造成热靶曲线（）
A.异常 B.正常 C.正确 D.良好
答案
THDS-C（哈科所）探测站,光子探头元温异常，会造成热靶曲线（）
A.异常 B.正常 C.正确 D.良好
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THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头元件温度超过正常值范围，有可能造成探头测温（）
A.异常 B.正常 C.不变 D.以上都不对
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THDS-A（哈科所）探测站光子探头的元件温度是由控制箱内的控制的（）
A.制冷控制板 B.加热控制板 C.控制板 D.前放板
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