THDS-B（哈科所）探测站,光子探头元件温度异常会造成（）

THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头元件温度异常可能与光子探头有关（） THDS-A（哈科所）探测站光子探头的元件温度是由控制箱内的控制的（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头元件温度正常值范围是（） THDS-C（哈科所）探测站光子探头的元件温度是由控制箱内的控制的（） THDS-B（哈科所）探测站光子探头的元件温度是由控制箱内的控制的（） THDS-A（哈科所）探测站中，光子探头元件温度变化超过系统要自动进行热靶标定（） THDS（哈科所）探测站,光子探头元温工作温度小于度（） THDS（哈科所）探测站更换光子探头后,需要（） THDS（哈科所）探测站光子探头采用芯插头（） THDS（哈科所）探测站光子探头曲线类型包括（） THDS-C（哈科所）探测站中，光子探头元件温度变化超过系统要自动进行热靶标定（） THDS-A（哈科所）探测站,光子探头元温工作温度小于度（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头的元件温度是由控制箱内的控制的（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头碲镉汞元件温度调整，具有种调整制冷方式（） THDS-A（哈科所）探测站光子探头采用芯插头（） THDS（哈科所）探测站光子探头适应车速范围是（） THDS-C（哈科所）探测站,光子探头元温工作温度小于度（） THDS（哈科所）探测站的光子探头的主要光子器件是采用HgCdTe（锑镉汞）作为核心元件（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头的元件温度是由控制箱内的控制的（） THDS（哈科所）探测站中光子探头的元件温度是由控制箱内的制冷控制板控制的（）