X射线荧光光谱分析法的基体效是指基体中其它元素对分析元素的影响，包括和

手持式X射线荧光光谱分析仪，不可检测下列哪些元素成分（） X射线荧光光谱分析形成误差的可能性是( )。 X射线荧光光谱分析标准化的方法有（）校正法 X荧光光谱分析中，物理效应主要表现（） X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。 X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素（） X射线荧光光谱分析中，适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。 X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的（） X射线荧光光谱分析中，X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。 X射线荧光光谱分析中，X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比（） 原子荧光光谱分析优点（）。 X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。 X射线荧光光谱法可以分析所有的元素（） 按照电磁辐射的本质来分，光谱分析法可分为原子光谱分析法和分子光谱分析法，属于原子光谱分析法的有（） 基于发射光谱分析法的光谱分析是（） X射线荧光光谱法基本上是一种（）分析法 光谱分析法与其他仪器分析法的不同点在于光谱分析法研究涉及的是 X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底（背景）为内标的校正方法。 X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底（背景）为内标的校正方法（） 极性溶剂对荧光的光谱干扰最小，荧光光谱分析中的主要光谱干扰是（）