在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应（）

X射线荧光光谱分析中，当基体效应是增强效应时，将使所得被测元素的结果偏低。 X射线荧光光谱分析中，当基体效应是增强效应时，将使所得被测元素的结果偏低（） X射线荧光光谱分析中，X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。 X射线荧光光谱分析中，X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比（） 光电直读光谱和X射线萤光光谱分析都属于（）分析法。 原子荧光光谱分析优点（）。 X射线光谱分析中是以为分析依据的（） X射线荧光光谱法可以分析（ ）样品 极性溶剂对荧光的光谱干扰最小，荧光光谱分析中的主要光谱干扰是（） X射线荧光光谱分析的基体效应的数学校正一般分为三类，即（） X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。 X射线荧光光谱法可以分析所有的元素（） X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法不能校正基体的吸收效应，只能校正增强效应。 X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法不能校正基体的吸收效应，只能校正增强效应（） X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。 X射线荧光光谱法中，分析微量Si的样品不能用（）磨料抛光 X射线荧光光谱分析的试样，可以是固态，也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响。 X射线荧光光谱分析的试样，可以是固态，也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响（） X射线荧光光谱分析中，各元素的同系谱线激发电位和同系特征光谱的波长，随原子序数的大小而变化，与管电压和管电流的大小也有关。 X射线荧光光谱分析中，对于不同元素的同名谱线，随着原子序数的增加，波长变短。特征光谱的这些物理现象和特点，主要是由各种元素的化学成分决定的。