X射线荧光光谱分析中，当基体效应是增强效应时，将使所得被测元素的结果偏低（）

X射线荧光光谱分析形成误差的可能性是( )。 X射线荧光光谱分析标准化的方法有（）校正法 X射线荧光分析时基体效应的基体，是指分析时试样中除（）元素本身外其它所有的元素 手持式X射线荧光光谱分析仪，不可检测下列哪些元素成分（） X射线荧光光谱分析中，适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。 光电直读光谱和X射线萤光光谱分析都属于（）分析法。 原子荧光光谱分析优点（）。 基体效应包括吸收和增强两种效应。消除基体效应的方法有（）法等 X射线荧光光谱分析中，X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。 X射线荧光光谱分析中，X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比（） X射线光谱分析中是以为分析依据的（） X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。 X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素（） 极性溶剂对荧光的光谱干扰最小，荧光光谱分析中的主要光谱干扰是（） X射线荧光光谱分析的试样，可以是固态，也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响。 X射线荧光光谱分析的试样，可以是固态，也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响（） 原子吸收光谱分析中,塞曼效应用来消除 在原子吸收光谱分析中，塞曼效应用来消除 X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底（背景）为内标的校正方法。 X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底（背景）为内标的校正方法（）