X射线荧光光谱分析的试样，可以是固态，也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响。

X射线荧光光谱分析的基体效应的数学校正一般分为三类，即（） X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法不能校正基体的吸收效应，只能校正增强效应。 X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法不能校正基体的吸收效应，只能校正增强效应（） X射线荧光光谱分析法的基体效是指基体中其它元素对分析元素的影响，包括和 X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。 X射线荧光光谱法可以分析所有的元素（） X射线荧光光谱分析中，当基体效应是增强效应时，将使所得被测元素的结果偏低。 X射线荧光光谱分析中，当基体效应是增强效应时，将使所得被测元素的结果偏低（） X射线荧光光谱分析中，X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。 X射线荧光光谱分析中，X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比（） X射线光谱分析中是以为分析依据的（） X射线荧光光谱标准加入法可通过（）求得试样的分析结果 极性溶剂对荧光的光谱干扰最小，荧光光谱分析中的主要光谱干扰是（） X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。 X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素（） X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底（背景）为内标的校正方法。 X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底（背景）为内标的校正方法（） 在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。 在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应（） X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。