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现场用电桥测量介质损耗因数,出现负数的可能原因是()
多选题
现场用电桥测量介质损耗因数,出现负数的可能原因是()
A. 标准电容器有损耗
B. 外部电场干扰
C. 试品周围构架杂物与试品绝缘结构形成的空间干扰网络的影响
D. 空气相对湿度及绝缘表面脏污的影响
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多选题
现场用电桥测量介质损耗因数,出现负数的可能原因是()
A.标准电容器有损耗 B.外部电场干扰 C.试品周围构架杂物与试品绝缘结构形成的空间干扰网络的影响 D.空气相对湿度及绝缘表面脏污的影响
答案
多选题
现场用电桥测量介质损耗因数,出现-tanδ的主要原因有( )。
A.标准电容器CN有损耗,且tanδN>tanδx B.电场干扰 C.试品周围构架杂物与试品绝缘结构形成的空间干扰网络的影响 D.空气相对湿度及绝缘表面脏污的影响
答案
主观题
测量介质损耗正切值tgδ时出现负数现象的原因是什么?
答案
主观题
测量介质损耗正切值tgδ时出现负数现象的原因是什么
答案
判断题
现场用西林电桥测量设备绝缘的介质损耗因数,出现试验电源与干扰电源不同步,电桥测量无法平衡时,应采用的正确方法是将电桥移位,远离干扰源。
答案
单选题
介损电桥测量小电容试品介质损耗因数时,采用( )接线较好。
A.正接线 B.反接线 C.对角接线 D.屏蔽接线
答案
单选题
不能测量介质损耗的电桥有( )。
A.海氏电桥 B.西林电桥 C.串联电容电桥 D.并联电容电桥
答案
判断题
现场用电桥测量介质损耗因数,出现-tgδ的主要原因:①标准电容器CN有损耗,且tgδN>tgδx;②电场干扰;③试品周围构架杂物与试品绝缘结构形成的空间干扰网络的影响;④空气相对湿度及绝缘表面脏污的影响()
答案
判断题
现场用电桥测量介质损耗因数,出现-tanδ的主要原因:①标准电容器CN有损耗,且tanδN>tanδx;②电场干扰;③试品周围构架杂物与试品绝缘结构形成的空间干扰网络的影响;④空气相对湿度及绝缘表面脏污的影响()
答案
单选题
介质损耗测试仪的介质损耗因数的测量范围()
A.0~1 B.0~0.2 C.0~0.3 D.0~0.4
答案
热门试题
介质损耗测量时,测量变压器的器身使用电桥正接法,测量套管使用反接法.()
测量介质损耗因数,通常不易发现()。
电力变压器、电抗器绕组绝缘介质损耗因数测量,必要时分别测量()的绝缘介质损耗因数。
介质损耗因数的测量范围:0~1()
下列()属于西林电桥测量介质损耗角的影响因素
仪器近一段时间检测元素有时会有负数出现,不知具体原因是什么?
用西林电桥测量介质损耗角正切,可以灵敏地发现( )。
用QSl电桥测量介质损耗角正切,可以灵敏地发现( )。
用 QSl电桥测量介质损耗角正切 ,可以灵敏地发现 ( )。
测量介质损耗因数时,缺陷通常不能被发现()
测量介质损耗因数,通常不能发现的设备绝缘缺陷是( )
测量介质损耗因数 ,通常不能发现的设备绝缘缺陷是( )
介质损耗因数增大意味着介质绝缘性能变差 ,实践中常通过测量介质 损耗因数来判断设备绝缘的好坏。
介质损耗因数增大意味着介质绝缘性能变差 ,实践中常通过测量介质 损耗因数来判断设备绝缘的好坏()
下列属于电容型设备介质损耗因数测量方法的是()。
对于测量介质损耗因数的表述,下列选项中有误的是()
介质损耗因数又称为介质损耗角( )。
测量绝缘介质出现负值的主要原因是()
介质损耗因数测量中,采用移相法可以消除()干扰。
测量介质损耗因数,对发现以下哪些缺陷较为有效?()
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