多选题

下列()属于西林电桥测量介质损耗角的影响因素

A. 温度
B. 试验电压
C. 试品电容量
D. 试品表面泄露

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多选题
下列()属于西林电桥测量介质损耗角的影响因素
A.温度 B.试验电压 C.试品电容量 D.试品表面泄露
答案
单选题
用西林电桥测量介质损耗角正切,可以灵敏地发现( )。
A.绝缘普遍性受潮 B.绝缘局部磨损 C.绝缘的局部受潮 D.绝缘中有小气泡
答案
单选题
用QSl电桥测量介质损耗角正切,可以灵敏地发现( )。
A.绝缘普遍性受潮 B.绝缘局部磨损 C.绝缘的局部受潮 D.绝缘中有小气泡
答案
单选题
用 QSl电桥测量介质损耗角正切 ,可以灵敏地发现 ( )。
A.绝缘普遍性受潮 B.绝缘的局部受潮 C.绝缘局部磨损 D.绝缘中有小气泡
答案
单选题
不能测量介质损耗的电桥有( )。
A.海氏电桥 B.西林电桥 C.串联电容电桥 D.并联电容电桥
答案
判断题
现场用西林电桥测量设备绝缘的介质损耗因数,出现试验电源与干扰电源不同步,电桥测量无法平衡时,应采用的正确方法是将电桥移位,远离干扰源。
答案
多选题
测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时,影响测试结果的因素包括()
A.温度、湿度的影响 B.电场干扰影响 C.外界磁场的影响 D.试品表面泄漏的影响
答案
判断题
使用QS1西林电桥进行介质损耗因数测量时,对任何电压等级的电气设备,试验电压一般取10kV。
答案
多选题
现场用电桥测量介质损耗因数,出现负数的可能原因是()
A.标准电容器有损耗 B.外部电场干扰 C.试品周围构架杂物与试品绝缘结构形成的空间干扰网络的影响 D.空气相对湿度及绝缘表面脏污的影响
答案
多选题
现场用电桥测量介质损耗因数,出现-tanδ的主要原因有( )。
A.标准电容器CN有损耗,且tanδN>tanδx B.电场干扰 C.试品周围构架杂物与试品绝缘结构形成的空间干扰网络的影响 D.空气相对湿度及绝缘表面脏污的影响
答案
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