在X射线荧光分析中，当样品研磨到极细时，则（）基本消失；将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时，分析线所受的（）与样品的组成无关

X射线荧光光谱仪可测出样品中的：（）. X射线荧光分析法所应用的元素固有的荧光X射线波长为（） X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（） X射线荧光分析连续X射线中短波限与（）有关 X射线荧光仪可进行（）分析。 将一种物质研磨成极细粉末的过程叫做将一种物质研磨成极细粉末的过程叫做（） 台式X射线荧光镀层测厚仪和手持式X射线荧光光谱仪相比，更适合不规则样品的镀层检测（） X射线荧光光谱法测定铁水成分，只需样品大小合适，对检测表面制样没什么要求（） X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。 X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素（） 在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。 在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应（） X射线荧光光谱法基本上是一种（）分析法 X射线荧光仪基本原理遵循（） X射线荧光分析描述X射线波长与原了序数之间关系的定律是（） X射线荧光光谱法中，处理粉末样品的方法主要有压片法和（） X射线荧光法中的荧光指（） X射线荧光分析金属块状试样有什么要求 X射线荧光分析金属块状试样的要求有（） X荧光分析法分析灰石粉末样品，样品的（）会造成分析误差（）