X射线荧光光谱法中，分析微量Si的样品不能用（）磨料抛光

X射线荧光光谱仪可测出样品中的：（）. 波长色散X射线荧光光谱仪是利用（）将不同波长的X射线荧光分开，得到单色X射线荧光光谱 X射线荧光光谱标准加入法可通过（）求得试样的分析结果 X-荧光光谱法正常做样前要做哪些检查？ 下列不能用于氢化物原子荧光光谱法测定的是（）。 X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差（） X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差（） 用手持式X射线荧光光谱仪分析钢材中Si、Al元素时，激发时间要适当加长（） 台式X射线荧光镀层测厚仪和手持式X射线荧光光谱仪相比，更适合不规则样品的镀层检测（） X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法不能校正基体的吸收效应，只能校正增强效应。 X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法不能校正基体的吸收效应，只能校正增强效应（） X射线荧光光谱分析形成误差的可能性是( )。 X射线荧光光谱仪包涵下述（）类型（） 色散型X射线荧光光谱仪分为（） X荧光的特征能量和强度是X射线荧光光谱定性和定量分析的基础（） X射线荧光光谱仪的X射线发生器由（）构成。 X射线荧光光谱分析标准化的方法有（）校正法 （）是X射线荧光光谱仪的分光器件。 X射线荧光光谱仪可分为（）类。 X射线荧光光谱仪灵敏度高