ICP法进行样品测定时，连续背景和谱线重叠干扰属于（）

经典极谱法进行分析测定时，不能搅拌溶液，这是为了（） ICP-AES法存在的主要干扰有（）、（）、（）、（）和（）。 ICP-AES法测定水中溶解态元素时，如何进行样品预处理？ 用火焰原子吸收光谱法测定化妆品中铅，当样品中含有大量Fe时，Fe283.34nm和283.25nm谱线对Pb283.3nm谱线产生一定的正干扰，可采用的消除干扰的方法是 用火焰原子吸收光谱法测定化妆品中铅，当样品中含有大量Fe时，Fe283.34nm和283.25nm谱线对Pb283.3nm谱线产生一定的正干扰，可采用的消除干扰的方法是 ICP-AES法测定时，混合标准溶液的酸度不必与待测样品溶液的酸度一致（） ICP测定时零点位置 ICP测定时零点位置 ICP测定炼油样品中金属元素，采用溶解样品灰化后的残渣（） ICP-AES分析中，产生连续背景的因素有（）、（）、（）和（）4种。 ICP、ICP-MS的定量方法—— 标准加入法可消除的干扰是（） 原子吸收法中，影响测定的干扰的类型主要有（）、物理干扰、（）和背景干扰；其定量分析方法主要有标准曲线法、（）和（）。 X射线荧光光谱分析中，适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。 原子吸收分析法中，背景干扰主要来自谱线干扰（） 用等离子发射光谱（ICP）法可以测定PTA样品中铁、钠、钴、锰、镍、铬等元素的含量（） 食品中的汞含量测定时，样品必须采用方法进行前样品处理 食品中的汞含量测定时，样品必须采用什么方法进行样品前处理？ 在绘制标准曲线和进行样品测定时，应使保持一致（） X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底（背景）为内标的校正方法。 X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底（背景）为内标的校正方法（）