单选题

ICP-AES法测定时,连续背景和谱线重叠干扰属于()。

A. A.光谱干扰
B. B.化学干扰
C. C.电离干扰

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单选题
ICP-AES法测定时,连续背景和谱线重叠干扰属于()。
A.A.光谱干扰 B.B.化学干扰 C.C.电离干扰
答案
单选题
ICP-AES法测定时,连续背景和谱线干扰属于()
A.光谱干扰 B.化学干扰 C.电离干扰 D.物理干扰
答案
单选题
ICP法进行样品测定时,连续背景和谱线重叠干扰属于()
A.光谱干扰 B.化学干扰 C.电离干扰
答案
主观题
什么是ARL直读光谱的背景辐射和谱线重叠干扰?
答案
主观题
什么是ARL直读光谱的背景辐射和谱线重叠干扰
答案
主观题
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答案
主观题
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答案
多选题
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答案
单选题
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A.采用氘灯背景扣除法 B.采用化学分离法 C.用氢卤酸-甲基异丁基酮缔合-萃取除去 D.采用标准加入法 E.采用乙炔/氧化亚氮以提高火焰温度
答案
单选题
用火焰原子吸收光谱法测定化妆品中铅,当样品中含有大量Fe时,Fe283.34nm和283.25nm谱线对Pb283.3nm谱线产生一定的正干扰,可采用的消除干扰的方法是
A.采用氘灯背景扣除法 B.采用化学分离法 C.用氢卤酸一甲基异丁基酮缔合一萃取除去 D.采用标准加入法 E.采用乙炔/氧化亚氮以提高火焰温度
答案
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