X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底（背景）为内标的校正方法（）

光电直读光谱和X射线萤光光谱分析都属于（）分析法。 X荧光光谱分析中，物理效应主要表现（） 手持式X射线荧光光谱分析仪，不可检测下列哪些元素成分（） X射线荧光光谱分析法的基体效是指基体中其它元素对分析元素的影响，包括和 原子荧光光谱分析优点（）。 X射线荧光光谱分析的基体效应的数学校正一般分为三类，即（） 光谱分析中基于散射光谱分析的方法为（） 光谱分析中基于散射光谱分析的方法为（） X射线荧光光谱分析中，对于不同元素的同名谱线，随着原子序数的增加，波长变短。特征光谱的这些物理现象和特点，主要是由各种元素的化学成分决定的。 X射线荧光光谱分析中，对于不同元素的同名谱线，随着原子序数的增加，波长变短。特征光谱的这些物理现象和特点，主要是由各种元素的化学成分决定的（） X射线管产生的X射线光谱，除连续X射线光谱外，还有阳极材料所产生的（）X射线光谱，且（）在连续谱之上 X射线荧光光谱分析中，当基体效应是增强效应时，将使所得被测元素的结果偏低。 X射线荧光光谱分析中，当基体效应是增强效应时，将使所得被测元素的结果偏低（） X射线荧光光谱法可以分析（ ）样品 极性溶剂对荧光的光谱干扰最小，荧光光谱分析中的主要光谱干扰是（） X射线荧光光谱分析中，X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。 X射线荧光光谱分析中，X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比（） X射线荧光光谱分析的试样，可以是固态，也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响。 X射线荧光光谱分析的试样，可以是固态，也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响（） X射线光谱分析中是以为分析依据的（）