THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头元件温度超过正常值范围，有可能造成探头测温（）

THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头手动调整制冷电流的调整时间为（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头元件温度异常可能与光子探头有关（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头手动调整制冷电流的调整时间为（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头校零时测得的电压正常值为（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元件温度与正常值偏离较大，就会造成探头测温（） THDS-A（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头的动态噪声超标必须要更换光子探头（） THDS-B（哈科）红外轴温探测系统光子探头轴温信号由处理（） THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头元件工作温度应该为0度以下（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头元件工作温度应该为0度以下（） THDS-B（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元件温度与正常值偏离较大，就会造成探头测温（） THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头的动态噪声超标必须要更换光子探头（） THDS（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头的静态噪声是恒定不变的（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统如果报元件温度故障，可能是（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统热敏探头板温比正常值偏高很多，容易造成（） THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头的静态噪声是恒定不变的（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头的静态噪声是恒定不变的（） THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元件温度不稳定或有跳变，容易造成探头碲镉汞器件的变化（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统探头温控板是控制温度的电路板（）