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中国大学MOOC: 在扩散工艺中,杂质进入半导体后占据正常的晶格格点,主要是沿着空位向里扩散的方法是()。
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中国大学MOOC: 在扩散工艺中,杂质进入半导体后占据正常的晶格格点,主要是沿着空位向里扩散的方法是()。
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中国大学MOOC: 在扩散工艺中,杂质进入半导体后占据正常的晶格格点,主要是沿着空位向里扩散的方法是()。
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主观题
中国大学MOOC: 扩散工艺中扩散结深的测量可以采用()方法测出。
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主观题
中国大学MOOC: 热扩散工艺中扩散结深通常采用()和()两种方法进行测量。
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多选题
扩散工艺使杂质由半导体晶片表面向内部扩散,改变了晶片(),所以晶片才能被人们所使用。
A.内部的杂质分布 B.表面的杂质分布 C.整个晶体的杂质分布 D.内部的导电类型 E.表面的导电类型
答案
多选题
利用半导体技术的扩散工艺,将型半导体和型半导体结合在一起,则其交界面便会形成一个PN结()
A.P B.Q C.S D.D E.N F.H
答案
单选题
硅片扩散工艺结束后应抽取()片来检测。
A.5 B.6 C.3 D.4
答案
主观题
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答案
主观题
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答案
判断题
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单选题
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A.晶振 B.电容 C.电感 D.PN结
答案
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