X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差（）

X射线荧光光谱标准加入法可通过（）求得试样的分析结果 X射线荧光光谱法中，处理粉末样品的方法主要有压片法和（） X射线荧光光谱法为了获得准确的定量分析结果，应使用有证的标准样品，标准样品与分析试料的（）尽可能一致 X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。 X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量（） X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。 X射线荧光光谱分析中，适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。 X射线荧光光谱分析形成误差的可能性是( )。 波长色散X射线荧光光谱仪是利用（）将不同波长的X射线荧光分开，得到单色X射线荧光光谱 光电直读光谱和X射线萤光光谱分析都属于（）分析法。 X射线荧光光谱分析标准化的方法有（）校正法 X-荧光光谱法正常做样前要做哪些检查？ （）原子吸收光谱法选用的吸收分析线不一定是最强的共振吸收线，当有干扰时，可用次分析线。 X射线荧光光谱分析法的基体效是指基体中其它元素对分析元素的影响，包括和 用原子吸收光谱法测定时，通常选择的分析线是 X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底（背景）为内标的校正方法。 X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底（背景）为内标的校正方法（） 原子吸收光谱法选用的吸收分析线一定是最强的共振吸收线。（） 原子吸收光谱法选用的吸收分析线一定是最强的共振吸收线（） X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法不能校正基体的吸收效应，只能校正增强效应。