晶片与探测面平行，使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为（）

芯片表面与被检材料表面不平行的超声波探伤称为（） 检验薄板时，可使超声波束直接垂直于表面，而观察（）。 超声波探头与被检工件之间存在空气时，超声波将被反射而能进入被检工件（） 检验薄板时，可使超声波声束直接垂直于表面，而观察（） 检验薄板时，可使超声波声束直接垂直于表面，而观察（） 超声波探伤时，怎样选择工件探测面？《探伤岗位培训教材》 道岔探伤作业探伤前应清除探测面上的等，保证探伤面平整、耦合良好、使各探测面符合超声波探伤要求（） 使用与探测面相垂直的超声波束进行探伤的方法，称为（）。 使用与探测面相垂直的超声波束进行探伤的方法称为（） 使用与探测面相垂直的超声波束进行探伤的方法，称为（）。 正垂线垂直于V面，平行于H、W面。() 在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为扫查（） 在工业超声波中能分辨出距探测面最近的回波缺陷的能力称为（） 探头的工作频率取决于晶片厚度和超声波在晶片材料中的 薄板可用超声波以垂直于表面的方向进入工件，并观察下列何者进行检验（） 超声波探头发出的超声波经过一定厚度的水层再进入被检工件，超声波探头不与被检工件接触检测方法叫做（） 探头晶片与缺陷表面不平行的超声波探伤法，称为斜射法。 探头晶片与缺陷表面不平行的超声波探伤方法，称为斜射法（） 投影面平行面同时垂直于两个投影面。 超声波液位计因为要向液面发射超声波，一般安装于容器部（）