THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，单侧热靶异常，一般情况下是室外轨边故障（）

THDS-A（哈科所）红外轴温探测系统热靶标定曲线纵坐标为热靶温度（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，双侧热靶曲线为一条水平直线，可能造成双侧探头测温异常（） THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统，双侧热靶曲线为一条水平直线，可能造成双侧探头测温异常（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统热靶标定曲线横坐标为热靶温度（） THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统热靶标定曲线纵坐标为热靶温度（） THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统热靶标定曲线横坐标为热靶温度（） THDS（哈科所）红外轴温探测系统，热靶曲线加热过快，可能会影响THDS（哈科所）设备的测温精度（） THDS-A（哈科所）红外轴温探测系统，左侧热靶曲线为一条水平直线，可能造成左侧探头测温异常（） THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统，左侧热靶曲线为一条水平直线，可能造成左侧探头测温异常（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，如果报元件温度故障，可能是热靶故障（） THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统，如果报元件温度故障，可能是热靶故障（） THDS-A（哈科所）红外轴温探测系统，热靶曲线加热过快，可能会影响THDS-A（哈科所）设备的测温精度（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元温高低变化不稳定，影响热靶曲线，会造成测温误差大（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统单侧元件温度接近环温时，可能是造成的（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元温高低变化不稳定，影响热靶曲线，会造成测温误差大（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统单侧元件温度接近环温时，可能是造成的（） THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统，热靶曲线加热过快，可能会影响THDS-B（哈科所）设备的测温精度（） THDS-A（哈科所）红外轴温探测系统，热靶标定时间一般在1′00″至1′30″之间（） THDS（哈科所）红外轴温探测系统，左侧热靶曲线为一条竖直线，可能造成左侧探头测温正常（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统单侧元件温度接近环温时，可能是造成的（）