X-荧光谱线简单，相互干扰少，样品必须经过分离，分析方法比较复杂（）

BLlac星系的亮度无规变化，没有光谱线，有射电-X辐射。 X射线荧光光谱仪可测出样品中的：（）. X射线荧光光谱法中，处理粉末样品的方法主要有压片法和（） 直流电弧光源激发的光谱线主要是原子线，高压火花光源激发的光谱线主要是（） X射线荧光光谱分析标准化的方法有（）校正法 X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。 分析用的光谱样品必须保证（） 在原子吸收中，如测定元素的浓度很高，或为了消除邻近光谱线的干扰等，可选用次灵敏线。（） 在原子吸收中,如测定元素的浓度很高,或为了消除邻近光谱线的干扰等,可选用次灵敏线（） X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时，原级X射线光谱中特征光谱是用于激发样品的主要光源。 X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时，原级X射线光谱中特征光谱是用于激发样品的主要光源（） 中国大学MOOC: 光谱学实验研究表明，大部分原子只能发出离散的光谱线，而少量原子也可以发出连续的光谱线 X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。 X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素（） 台式X射线荧光镀层测厚仪和手持式X射线荧光光谱仪相比，更适合不规则样品的镀层检测（） X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。 X荧光光谱分析中，物理效应主要表现（） X射线荧光光谱法可以分析所有的元素（） X荧光分析法分析灰石粉末样品，样品的（）会造成分析误差（） X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差（）